铝质、硅质和镁质耐火材料的X射线荧光光谱快速分析
- 发布人：管理员
- 发布时间：2015-02-03
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摘 要：以Li28407和啦作熔剂，采用熔片法制样，建立了铝质、硅质和镁质耐火材料中 Mgo，鹏Q，SiQ，QIo，P2q，TiQ，№q，Mn0，K20的X射线荧光光谱分析方法。考察了不同样品与熔剂的稀释比例时的玻璃熔片制备的重复性，讨论了烧失量的影响。本方法采用23个国家标准样品或人工合成样品来制作校准曲线，JIS模式理论d系数法校正基体的吸收增强效应，并且用标准样品验证了方法的准确度，标准样品的测定值与标准值非常接近，且有较好精密度。
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